cabecera_ficha

UZ002073

Difractómetro de Rayos X (Cámara difractométrica Debye-Scherrer)

contenido_ficha_izda

La cámara de Debye-Scherrer es un método de análisis cristalográfico basasdo en la difracción de rayos X y es utilizado para la identificación y caracterización de muestras en polvo de materiales cristalinos. Este método de identificación de sustancias cristalinas por registro fotográfico de la imagen difraccional de rayos X producida por una muestra pulverulenta del material es introducido en 1914 por Peter Debye (1884-1966) y Paul Scherrer (1890-1969). La cámara Debye-Scherrer consiste en un recinto cilíndrico estanco a la luz que soporta una cinta de película de rayos X ajustada a su perímetro interior. La muestra, de dimensiones inferiores a 1 mm, se sitúa exactamente en el eje del cilindro y debe ser rotada para asegurar la arbitrariedad de orientaciones de los cristales y evitar la aparición de impactos de Laue. La muestra, finamente pulverizada, es introducida en un tubo de vidrio boro silicato o incluida en un aglomerante e iluminada por un fino haz de rayos X colimado tras atravesar un tubo de metal de 0,5 mm de luz o una rendija de 2 x 0,5 mm que permite exposiciones más cortas.La exacta determinación de los ángulos de difracción es crucial (métodos de Bradley-Jay, Van Arkel o Straumanis). Actualmente la película es substituída por contadores de radiación que proporcionan resultados cuantitativos.

contenido_ficha_dcha

Titulo: 

Difractómetro de Rayos X (Cámara difractométrica Debye-Scherrer)

Ubicación: 
Facultad de Ciencias
Clasificación: 
Equipamiento de laboratorio
Datación: 
Siglo XX
Materia: 
Metal
Medidas: 
14,5 x 14,5 x 14,5 cm
Uso/Función: 
Identificación de sustancias cristalinas