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UZ002084

Difractómetro de Laue

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En el método de Max von Laue (1879–1960) se hace incidir un haz policromático de rayos X sobre un cristal fijo. De este modo, el cristal generaba un conjunto de haces que representan la simetría interna del cristal. En estas condiciones, y teniendo en cuenta la ley de Bragg, y usando la construcción de Ewald, se demuestra que el diagrama de Laue es simplemente una proyección estereográfica de los planos del cristal.El registro admite dos geometrías diferentes, dependiendo de la posición del cristal respecto de la placa fotográfica: por transmisión, si el haz de rayos X incide sobre el cristal y los haces difractados hacia adelante se recogen sobre la película; o por reflexión, si la película se sitúa entre la fuente de rayos X y el cristal. Por un orificio practicado en la película pasa un colimador que selecciona un pincel de rayos X que incide sobre el cristal,y la película recoge los haces difractados hacia atrás.

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Titulo: 

Difractómetro de Laue

Ubicación: 
Facultad de Ciencias
Clasificación: 
Equipamiento de laboratorio
Datación: 
Mediados del siglo XX
Materia: 
Hierro, latón
Medidas: 
21 x 21 x 22 cm
Uso/Función: 
Difractometría de rayos X